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晶圆涡流探伤浏览数:38

晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的。硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆。

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晶圆是制造半导体器件的核心基础材料,主要用于集成电路制造、LED生产、光伏产业和传感器制造,其应用贯穿现代电子工业全产业链。

在过往的晶圆质量(隐裂、孔、杂晶等)检测方法中,包含:有光学、射线、声学显微镜等各种手段,不同方法都有各自的优缺点,其中检测速度慢和如何保护被检面性能是常见的痛点。睿信电子自主开发的涡流检测,辅助特定的信号处理算法。针对晶圆,经过大量检测以及破坏性验证对比:既可准确的检出传统光学、目视无法发现的某些隐裂、杂晶、孔。还可以达到不到1分钟即可检测完一片12寸晶圆的效率。因此对于晶圆的非破坏性百检、快筛,提供了一种崭新的检测方法。一定程度上帮助晶圆生产企业降低了质量流出风险,也为晶圆后续加工企业节约了生产成本。总体提高了风险管控的能力。

采用涡流方法检测时,晶圆由真空吸盘进行固定,保证晶圆的轴心与吸盘轴心同轴。旋转电机驱动吸盘带动晶圆原地旋转(不论顺时针/逆时针)。晶圆上表面沿径向,布置一个或多个检测传感器。当晶圆旋转时,检测传感器从外圆向圆心,匀速前进,完成覆盖扫查


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结构示意图

 

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晶圆自然隐裂的涡流信号

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涡流检出目视看不见的隐裂后,研磨后浮现裂纹

 

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涡流检出目视看不见的缺陷后,研磨后浮现的孔状缺陷

 

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涡流检出目视看不见的缺陷后,研磨浮现出的杂晶


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